ASTM F1467-18

Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (approximately equal10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits

NORMA vydaná dňa 1.3.2018

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (78.80 EUR)

Anglicky -

Tlačené (78.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1467-18
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.3.2018
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1467-18 :

Keywords:
ionizing radiation effects, microcircuits, radiation hardness, semiconductor devices, X-ray testing,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)