ASTM F143-73(1978)

Method of Test for Thickness of Epitaxial Layers of Silicon by Measurement of Stacking Fault Dimension (Withdrawn 1985)

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (NA OTÁZKU)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F143-73(1978)
Poznámka: NEPLATNÁ
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM