NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1404-92(1999)

Test Method for Crystallographic Perfection of Gallium Arsenide by Molten Potassium Hydroxide (KOH) Etch Technique

NORMA vydaná dňa 10.6.1999

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (72.80 EUR)
Anglicky -
Tlačené (72.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1404-92(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.1999
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1404-92(1999) :

Keywords:
Contamination-semiconductors, Crystal lattice structure, Defects-semiconductors, Density-electronic applications, Etch pit density (EPD), Gallium arsenide, Impurities-semiconductors, KOH etch pits, Microscopic examination-electronic materials, Molten KOH etch technique, Monocrystalline perfection, crystallographic perfection of (doped/undoped) gallium arsenide, ingot/wafer, by molten KOH etch technique, test, ICS Number Code 71.060.50 (Salts)