ASTM F1260M-96(2003)

Standard Test Method for Estimating Electromigration Median Time-to-Failure and Sigma of Integrated Circuit Metallizations [Metric] (Withdrawn 2009)

NORMA vydaná dňa 10.6.1996

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (71.70 EUR)

Anglicky -

Tlačené (71.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1260M-96(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.1996
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1260M-96(2003) :

Keywords:
electromigration, electromigration metallization, integrated circuit, microelectronics, open circuit, resistance increase, time-to-failure