ASTM F1259M-96(2003)

Standard Guide for Design of Flat, Straight-Line Test Structures for Detecting Metallization Open-Circuit or Resistance-Increase Failure Due to Electromigration [Metric] (Withdrawn 2009)

NORMA vydaná dňa 10.6.1996

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (63.10 EUR)

Anglicky -

Tlačené (63.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1259M-96(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.1996
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1259M-96(2003) :

Keywords:
design guideline, electromigration, electromigration failure, interconnect metallization, metallization open-circuit, metallization resistance, microelectronic, test structure