ASTM F1192-24

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

NORMA vydaná dňa 1.5.2024

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (71.60 EUR)

Anglicky -

Norma a Redline - Online zabezpečené PDF (86.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1192-24
Dátum vydania normy: 1.5.2024
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1192-24 :

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)