Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (69.80 EUR)

Norma a Redline - Online zabezpečené PDF (83.70 EUR)

Anglicky -

Tlačené (69.80 EUR)

Anglicky -

Tlač + redline (83.70 EUR)

Prečo Redline?

Redline predstavuje rýchly a jednoduchý spôsob ako porovnať všetky zmeny medzi aktuálne platnou normou a predchádzajúcou verziou.

Vďaka redline sa okamžite dozviete o:

doplnkoch
vymazaných údajoch
a ďalších zmenách medzi týmito dvoma normami

Ušetrite si čas aj starosti!

Vďaka Redline už nebudete musieť strácať čas zisťovaním, čo sa v novej norme zmenilo. Redline Vám ušetrí čas a zaručí, že sa o zmenách v norme dozviete.

Cena

Ak si zvolíte možnosť "Platná norma + Redline", potom dostanete oba dokumenty! A čo je najlepšie, cena Platné normy + Redline je len o niečo málo vyššia ako cena samostatnej platné normy.

Zobraziť ukážku Redline

The information about the standard:

Designation standards: ASTM F1192-24
Publication date standards: 1.5.2024
The number of pages: 12
Approximate weight : 36 g (0.08 lbs)
Country: American technical standard
Kategória: Technické normy ASTM

Annotation of standard text ASTM F1192-24 :

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)