ASTM F1192-00(2006)

Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices

NORMA vydaná dňa 1.7.2006

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (82.80 EUR)

Anglicky -

Tlačené (82.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1192-00(2006)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.7.2006
Počet strán: 11
Približná hmotnosť: 33 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1192-00(2006) :

Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)