
Standard Test Method for Interstitial Atomic Oxygen Content of Silicon by Infrared Absorption with Short Baseline (Withdrawn 2003)
NORMA vydaná dňa 10.12.2002
Označenie normy: ASTM F1188-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2002
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
infrared absorption, infrared spectrophotometry, interstitial oxygen, oxygen, silicon, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)