ASTM F1153-92(2002)

Standard Test Method for Characterization of Metal-Oxide-Silicon (MOS) Structures by Capacitance-Voltage Measurements (Withdrawn 2003)

NORMA vydaná dňa 15.5.1992

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (74.60 EUR)

Anglicky -

Tlačené (74.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1153-92(2002)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.5.1992
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1153-92(2002) :

Keywords:
capacitance-voltage, carrier concentration, fixed charge density, flatband capacitance, flatband voltage, metal-oxide-silicon structures, mobile ionic charge, MOS structures, silicon, ICS Number Code 31.060.01 (Capacitors in general)