ASTM F108-88e1

Test Method for Resistivity of Silicon Epitaxial Layers by the Three-Probe Voltage Breakdown Method (Includes all amendments And changes 8/13/2021).

NORMA vydaná dňa 1.1.1988

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (76.50 EUR)

Anglicky -

Tlačené (76.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F108-88e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1988
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM