NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F1049-00

Standard Practice for Shallow Etch Pit Detection on Silicon Wafers

NORMA vydaná dňa 10.6.2000

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (65.00 EUR)
Anglicky -
Tlačené (65.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1049-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.2000
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1049-00 :

Keywords:
Defects-semiconductors, Etching, Haze, wafers (silicon)- shallow etch pit detection, test,, Microscopic examination-electronic materials, wafers (silicon)- shallowetch pit detection, test, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)