ASTM E766-98(2008)e1

Standard Practice for Calibrating the Magnification of a Scanning Electron Microscope (Includes all amendments And changes 3/19/2014).

NORMA vydaná dňa 15.6.2008

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (70.70 EUR)

Anglicky -

Tlačené (70.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E766-98(2008)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.6.2008
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E766-98(2008)e1 :

Keywords:
calibration, magnification, pitch, scanning electron microscope, Calibration--microscopes, Electron microscopy, Magnification, Scanning electron microscope (SEM), ICS Number Code 37.020 (Optical equipment)