ASTM E2530-06

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si(111) Monatomic Steps (Withdrawn 2015)

NORMA vydaná dňa 1.11.2006

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (72.80 EUR)

Anglicky -

Tlačené (72.80 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E2530-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2006
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E2530-06 :

Keywords:
atomic force microscope, atomic steps, AFM, calibration, measurement, silicon, z-magnification, ICS Number Code 19.020 (Test conditions and procedures in general), 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)