ASTM E2444-11e1

Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).

NORMA vydaná dňa 15.10.2011

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (62.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E2444-11e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.10.2011
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E2444-11e1 :

Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)