NORMSERVIS s.r.o.

ASTM E2382-04(2020)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

NORMA vydaná dňa 1.12.2020

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (66.90 EUR)
Anglicky -
Tlačené (66.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E2382-04(2020)
Dátum vydania normy: 1.12.2020
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E2382-04(2020) :

Keywords:
Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction,, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)