ASTM E2382-04(2012)

Standard Guide to Scanner and Tip Related Artifacts in Scanning Tunneling Microscopy and Atomic Force Microscopy

NORMA vydaná dňa 1.11.2012

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (77.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E2382-04(2012)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2012
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E2382-04(2012) :

Keywords:
Abbe offset error, creep, dilation, hysteresis, nonlinearity, probe-sample mixing, AFM, STM, tip shape, proximal probe, geometric mixing, image reconstruction, ICS Number Code 17.040.20 (Properties of surfaces)