ASTM E1634-11(2019)

Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements

NORMA vydaná dňa 1.11.2019

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (52.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1634-11(2019)
Dátum vydania normy: 1.11.2019
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1634-11(2019) :

Keywords:
Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, stylus profilometry, surface analysis , X-ray photoelectron spectroscopy,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)