ASTM E1634-02

Standard Guide for Performing Sputter Crater Depth Measurements

NORMA vydaná dňa 10.4.2002

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (65.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1634-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.4.2002
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1634-02 :

Keywords:
Auger electron spectroscopy, secondary ion mass spectrometry, stylus profilometry, surface analysis , x-ray photoelectron spectroscopy, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)