ASTM E1438-91(1996)

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORMA vydaná dňa 15.9.1991

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (66.10 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1438-91(1996)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.9.1991
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1438-91(1996) :

Keywords:
data analysis-spectrochemical, depth resolution, interface width, profile distortion, secondary ion mass spectrometry (SIMS)