ASTM E1438-11(2019)

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORMA vydaná dňa 1.11.2019

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (55.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1438-11(2019)
Dátum vydania normy: 1.11.2019
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1438-11(2019) :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)