ASTM E1438-11

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORMA vydaná dňa 1.11.2011

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (62.00 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1438-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2011
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1438-11 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)