ASTM E1438-06

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

NORMA vydaná dňa 1.11.2006

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (67.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1438-06
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2006
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1438-06 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)