
Standard Test Method for Determining the Effective Elastic Parameter for X-Ray Diffraction Measurements of Residual Stress
NORMA vydaná dňa 10.10.1998
Označenie normy: ASTM E1426-98
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.10.1998
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
Crystal lattice structure, Effective elastic parameter (Eeff), Macroscopic analysis, Polycrystalline materials, Residual stress, Stress, X-ray diffraction, effective elastic parameter (Eeff) for X-ray diffraction measurements of, residual stress, test