ASTM E1162-87(1996)

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

NORMA vydaná dňa 24.4.1987

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (66.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1162-87(1996)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 24.4.1987
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1162-87(1996) :

Keywords:
data analysis-spectrochemical, depth profiling, secondary ion mass spectrometry (SIMS), spectrometry-mass, sputter depth profiling data, surface analysis-spectrochemical analysis