ASTM E1162-11(2019)

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

NORMA vydaná dňa 1.11.2019

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (53.50 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1162-11(2019)
Dátum vydania normy: 1.11.2019
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1162-11(2019) :

Keywords:
ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)