ASTM E1161-03

Standard Test Method for Radiologic Examination of Semiconductors and Electronic Components

NORMA vydaná dňa 10.6.2003

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (66.70 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1161-03
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.2003
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1161-03 :

Keywords:
electronic devices, nondestructive testing, radiographic, radioscopy, semiconductors, X-Ray