ASTM E1127-91(1997)

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

NORMA vydaná dňa 10.9.1997

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (66.60 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1127-91(1997)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.9.1997
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1127-91(1997) :

Keywords:
Angle lapping, Argon atmospheres, Ball cratering, Crater edge profiling, Depth profiling, Gases, Ion sputtering, Noble gas ions, Nondestructive evaluation (NDE), Polishing properties, Spectroscopy-auger electron (AES), Sputter depth profiling data, Surface analysis-spectrochemical analysis, Xenon, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)