ASTM E1127-24

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

NORMA vydaná dňa 1.10.2024

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (61.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1127-24
Dátum vydania normy: 1.10.2024
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1127-24 :

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,