ASTM E1127-08(2015)

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy (Withdrawn 2024)

NORMA vydaná dňa 1.6.2015

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (71.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1127-08(2015)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2015
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1127-08(2015) :

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films,, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)