ASTM E1127-03

Standard Guide for Depth Profiling in Auger Electron Spectroscopy

NORMA vydaná dňa 10.5.2003

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (74.30 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1127-03
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.5.2003
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E1127-03 :

Keywords:
angle lapping, angle-resolved AES, Auger electron spectroscopy, ball cratering, compositional depth profiling, cross sectioning, depth profiling, depth resolution, sputter depth profiling, sputtering, thin films, ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)