Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.
NORMA vydaná dňa 1.11.2012
Designation standards: E DIN EN 62047-22:2012-11
Note: NEPLATNÁ
Publication date standards: 1.11.2012
The number of pages: 14
Approximate weight : 42 g (0.09 lbs)
Country: German technical standard
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten.