DIN EN 62373:2007-01

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).

NORMA vydaná dňa 1.1.2007

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (65.90 EUR)

Nemecky -

Tlačené (79.90 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (67.40 EUR)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN 62373:2007-01
Publication date standards: 1.1.2007
The number of pages: 14
Approximate weight : 42 g (0.09 lbs)
Country: German technical standard
Kategória: Technické normy DIN

Annotation of standard text DIN EN 62373:2007-01 :

Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).