DIN EN 60749-6:2003-04

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature.

NORMA vydaná dňa 1.4.2003

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (39.40 EUR)

Nemecky -

Tlačené (47.70 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (40.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-6:2003-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.4.2003
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-6:2003-04 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 6: Lagerung bei hoher Temperatur.