Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2: Low air pressure.
NORMA vydaná dňa 1.4.2003
Označenie normy: DIN EN 60749-2:2003-04
Dátum vydania normy: 1.4.2003
Počet strán: 8
Približná hmotnosť: 24 g (0.05 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 2: Niedriger Luftdruck.