DIN EN 60749-1:2003-12

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General.

NORMA vydaná dňa 1.12.2003

Nemecky -
PDF - okamžité stiahnutie (52.90 EUR)

Nemecky -

Tlačené (63.80 EUR)

Nemecky -

CD-ROM (54.40 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 60749-1:2003-12
Dátum vydania normy: 1.12.2003
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 60749-1:2003-12 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 1: Allgemeines.