ASTM F980-16

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NORMA vydaná dňa 1.12.2016

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (69.20 EUR)

Anglicky -

Tlačené (69.20 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F980-16
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.12.2016
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F980-16 :

Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices ,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)