ASTM F1892-12

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NORMA vydaná dňa 1.7.2012

Anglicky -
PDF - okamžité stiahnutie (107.90 EUR)

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1892-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.7.2012
Počet strán: 41
Približná hmotnosť: 123 g (0.27 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1892-12 :

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)