ČSN EN 120003
STN EN 150003
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 62373:2007-01
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
Automaticky preložený názov:
Stability Skúška Bias teplote na kov-oxid, polovodič, tranzistory riadené poľom (MOSFET).
NORMA vydaná dňa 1.1.2007
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 62373:2007-01
Dátum vydania normy: 1.1.2007
Kód tovaru: NS-239812
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy DIN EN 62373:2007-01 :
Stabilitätsprüfung unter Temperatur-Spannungs-Beanspruchung für Feldeffekttransistoren mit Metalloxid-Halbleiter (MOSFET).
Podobné normy:
1.7.1998
1.12.1997
1.3.2007
1.12.2010
1.12.2010
1.11.2000
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
