E DIN EN 60749-28:20..
Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
DIN EN 62047-3:2007-02
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 3: Thin film standard test piece for tensile-testing.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 3: Thin Film štandardný skúšobný kus pre skúšanie pevnosti v ťahu.
NORMA vydaná dňa 1.2.2007
Informácie o norme:
Označenie normy: DIN EN 62047-3:2007-02
Dátum vydania normy: 1.2.2007
Kód tovaru: NS-239569
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Kategórie - podobné normy:
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Anotácia textu normy DIN EN 62047-3:2007-02 :
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 3: Dünnschicht-Standardmikroprobe für die Prüfung der Zugbeanspruchung.
Podobné normy:
1.12.2003
1.7.2011
1.9.2004
1.4.2004
1.4.2013
NEPLATNÁ
1.7.2012
Odporúčame:
Aktualizácia zákonov
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
