Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson´s ratio of thin film MEMS materials.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 21: Skúšobná metóda pre Poissonovo pomer tenkého filmu MEMS materiály.
NORMA vydaná dňa 1.4.2015
Označenie normy: DIN EN 62047-21:2015-04
Dátum vydania normy: 1.4.2015
Kód tovaru: NS-583027
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 21: Prüfverfahren zur Querkontraktionszahl von Dünnschichtwerkstoffen der Mikrosystemtechnik.
1.4.2014
1.2.2007
1.4.2015
1.4.2015
NEPLATNÁ
1.5.2014
NEPLATNÁ
1.5.2014
Posledná aktualizácia: 2024-04-18 (Počet položiek: 2 859 866)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.