Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 2: Skúška ťahom metóda tenkovrstvových materiálov.
NORMA vydaná dňa 1.2.2007
Označenie normy: DIN EN 62047-2:2007-02
Dátum vydania normy: 1.2.2007
Kód tovaru: NS-239568
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN
Polovodičová zařízení obecně
Elektromechanické komponenty obecně
Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen.
1.2.2008
1.6.2011
1.12.2010
1.12.2010
NEPLATNÁ
1.5.2012
NEPLATNÁ
1.5.2014
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-04-25 (Počet položiek: 2 896 007)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.