Norma DIN EN 62047-2:2007-02 1.2.2007 náhľad

DIN EN 62047-2:2007-02

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials.

Automaticky preložený názov:

Polovodičové súčiastky - Micro-elektromechanické zariadenia - Časť 2: Skúška ťahom metóda tenkovrstvových materiálov.



NORMA vydaná dňa 1.2.2007


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena59.60 bez DPH
59.60

Informácie o norme:

Označenie normy: DIN EN 62047-2:2007-02
Dátum vydania normy: 1.2.2007
Kód tovaru: NS-239568
Počet strán: 14
Približná hmotnosť: 42 g (0.09 libier)
Krajina: Nemecká technická norma
Kategória: Technické normy DIN

Anotácia textu normy DIN EN 62047-2:2007-02 :

Halbleiterbauelemente - Bauteile der Mikrosystemtechnik - Teil 2: Prüfverfahren zur Zugbeanspruchung bei Dünnschicht-Werkstoffen.

Odporúčame:

EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste

Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !

Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.