Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM F388-84
Method for Measurement of Oxide Thickness on Silicon Wafers and Metallization Thickness by Multiple-Beam Interference (Tolansky Method) (Withdrawn 1993)
Automaticky preložený názov:
Metóda merania oxidu hrúbky na kremíkových plátkov a pokovovanie hrúbky pomocou Multiple - Beam rušenia ( Tolansky metóda ) ( Withdrawn 1993 )
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM F388-84
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-55128
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Anotácia textu normy ASTM F388-84 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
