ASTM F1263-11

Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts

Automaticky preložený názov:

Štandardné Príručka pre analýzu dát v Overtest žiarenia testovanie elektronických súčiastok



NORMA vydaná dňa 1.6.2011


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena61.00 bez DPH
61.00

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1263-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.6.2011
Kód tovaru: NS-49673
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Kategórie - podobné normy:

Elektronické součásti všeobecně

Anotácia textu normy ASTM F1263-11 :

Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, Acceptance criteria/testing, Data analysis, Electrical conductors (semiconductors), Estimated survival probability, Failure end point--electronic components/devices, Microelectronic devices, Overtest data, Probability of survival, Quality assurance (QA), Stress--electronic components/device, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)

Odporúčame:

Aktualizácia zákonov

Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.