ASTM E1438-11

Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS

Automaticky preložený názov:

Štandardné Sprievodca pre meranie šírky rozhrania v naprašovaním hĺbkové profilovanie pomocou SIMS



NORMA vydaná dňa 1.11.2011


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena61.10 bez DPH
61.10

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1438-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.11.2011
Kód tovaru: NS-41752
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Kategórie - podobné normy:

Polovodičové materiály

Anotácia textu normy ASTM E1438-11 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Odporúčame:

Aktualizácia zákonov

Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.