ASTM E1162-11(2019)

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)



NORMA vydaná dňa 1.11.2019


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena50.80 bez DPH
50.80

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E1162-11(2019)
Dátum vydania normy: 1.11.2019
Kód tovaru: NS-976103
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Kategórie - podobné normy:

Fyzikálně chemické analytické metody

Anotácia textu normy ASTM E1162-11(2019) :

Keywords:
ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.