Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films (Includes all amendments And changes 5/28/2018).
Automaticky preložený názov:
Terminológia V súvislosti s meraní vykonaných na tenkých, Reflexné fólie
NORMA vydaná dňa 15.10.2011
Označenie normy: ASTM E2444-11e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.10.2011
Kód tovaru: NS-45312
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Elektronika (názvosloví)
Mechanické konstrukce pro elektronická zařízení
Keywords:
cantilevers, definitions, fixed-fixed beams, interferometry, length measurements, microelectromechanical systems, MEMS, polysilicon, residual strain, stiction, strain gradient, terminology, test structure, ICS Number Code 01.040.31 (Electronics (Vocabularies)), 31.240 (Mechanical structures for electronic equipment)
1. Scope | ||||||||
1.1 This standard consists of terms and definitions pertaining to measurements taken on thin, reflecting films, such as found in microelectromechanical systems (MEMS) materials. In particular, the terms are related to the standards in Section , which were generated by Committee E08 on Fatigue and Fracture. Terminology E 1823 Relating to Fatigue and Fracture Testing is applicable to this standard. 1.2 The terms are listed in alphabetical order. |
||||||||
2. Referenced Documents | ||||||||
|
1.1.1982
1.7.1992
1.1.1984
1.1.1991
1.1.1985
1.1.1989
Posledná aktualizácia: 2024-05-17 (Počet položiek: 2 902 148)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.